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AI搭載の特許図面生成

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マルチオフィス特許図面ハブ

官庁別の特許図面要件

USPTO、CNIPA、EPO、JPO、KIPO、PCT/WIPO の特許図面要件を横断的に比較できます。官庁ごとのルール差分、よくあるミス、提出前の作図指針を整理するための中核ページとして使えます。

PatentFig AIを開くUSPTO 要件チェックリスト
USPTO
米国の実用特許、意匠特許、ソフトウェア関連出願向け。

主要な違い

  • • 白黒の線品質、余白、参照番号の可読性、37 CFR 1.84 への適合が重視されます。
  • • 意匠案件では、破線戦略、必要視図の網羅、表面陰影の使い方も重要です。

よくあるミス

  • • 図面の過密化、番号の不一致、線のコントラスト不足、意匠視図の欠落。
  • • ラスター画像の品質が低く、提出用 PDF でさらに劣化すること。
USPTO ガイドを読む図面を生成
CNIPA
より厳格な白黒ドラフティングが必要な中国出願向け。

主要な違い

  • • よりクリーンな線、残留カラーやグラデーションの禁止、ノイズの多い CAD 出力への低い許容度が特徴です。
  • • 図面全体での参照番号の一貫性と余白管理も重要です。

よくあるミス

  • • 色残り、ぼやけたグレースケール出力、過度な陰影、視図間のラベル不一致。
  • • CNIPA を USPTO の軽い変種として扱い、独立した作図対象と見ないこと。
CNIPA ガイドを読む図面を生成
EPO
EPC 実務に沿った図面の明瞭性が必要な欧州出願チーム向け。

主要な違い

  • • 高い可読性の線画、論理的な図番号の流れ、複写後も読める参照記号が重視されます。
  • • EPO は、明細書との整合性が高く、全体として規律ある図面セットを高く評価します。

よくあるミス

  • • 米国向けに整えた図面がそのまま欧州にも最適だと思い込むこと。
  • • 図面と明細書用語の内部整合性が弱いこと。
EPO ガイドを読む図面を生成
JPO
日本向けの実用、機械系、意匠寄り図面セットを扱うチーム向け。

主要な違い

  • • 明快な線表現、安定した視図関係、ラベルと図面階層の丁寧な扱いが重要です。
  • • 意匠関連では、非常に安定した多視図ジオメトリと抑制された表現が効果的です。

よくあるミス

  • • グローバル向け図面を、そのまま日本の配置や明瞭性の期待に合わせず再利用すること。
  • • 輪郭変化の多い製品で、多視図の整合性が緩いこと。
JPO ガイドを読む図面を生成
KIPO
クリーンな技術図面と予測可能なセット整合性が必要な韓国出願向け。

主要な違い

  • • 読みやすい図面、整理されたラベル、審査効率を高める一貫した図面セットが重視されます。
  • • ソフトウェアやシステム図でも、一般的なスライド風ではなく、特許向けの整った表現が必要です。

よくあるミス

  • • 情報過多の図、ページごとのスタイル混在、図ごとに揺れるラベル。
  • • プレゼン資料のグラフィックを特許用に整えず、そのまま流用すること。
KIPO ガイドを読む図面を生成
PCT / WIPO
各国移行前に共通の土台を整えたい国際出願向け。

主要な違い

  • • PCT 段階では、再現しやすい図面、安定した番号付け、保守的な書式選択が重要です。
  • • よく整えられた PCT 図面セットは、USPTO、EPO、CNIPA、JPO、KIPO への移行時の手戻りを減らします。

よくあるミス

  • • PCT を実際の作図チェックポイントではなく、仮置き段階として扱うこと。
  • • 図面の整理を国内段階まで先送りし、後のコストと不一致を膨らませること。
PCT ガイドを読む図面を生成
主要官庁に共通する基本ルール
以下は、多くの実用特許・意匠特許の出願で横断的に有効な基本原則です。

• 色、グラデーション、柔らかい陰影よりも、白黒の線画を優先する。

• 余白と描画領域を整え、図面の再現性を保つ。

• 関連するすべての視図で参照番号を一貫させる。

• 過密な内容は、追加図に分割して整理する。

• 図面セットを、スタイルが漂う単独ページではなく一つのシステムとして扱う。

このハブの使い方
まずここで広く比較し、その後、自分の直近の出願先に合う官庁ページへ進んでください。

1. 次の出願先に合う官庁サマリーを読む。

2. 詳細な作図ルールを確認するために専用ガイドを開く。

3. PatentFig AI で図面を生成または調整する。

4. 最終出力と提出前に整合性を再確認する。

FAQ

複数官庁にまたがる特許図面準備でよくある実務質問です。